没有侧裂的4PI超分辨率技术的突破

作者: bat365在线平台官网   点击次数:    发布时间: 2025-05-16 14:50

该报纸（记者朱韩）教授Zhan Qiuqiang教授和南方师范大学使用了超高级的非线性荧光和双焦点干涉仪现场调节，以实现远场的三维焦点，并仅使用26个纳米仪和横向分辨率的轴向分辨率，并且仅对48个单个nan nanemeters和单个nan nanemememememem andersiper of 48 nannoters andersime，在物理空间中，第一次在4PI显微镜中的高强度侧裂问题。最近，相关结果已发表在“光：科学与应用”中。对三维超狭窄空间中光和物体之间相互作用的相互作用的研究对于破坏多样性极限的成像，传感和光刻等切割技术的开发具有重要意义。由于显微镜目的的孔径有限，因此传统遥远杀手的轴向分辨率三维聚焦方法通常比横向方向差2至3倍。 4PI显微镜可能会增加3到7倍的轴向分辨率，但是相关的技术取决于双重客观体系结构和多光束的准确性，并且该系统很复杂且稳定性较差。由中断的特征引起的高强度侧叶将扩大光和物体的范围，从而导致成像伪像。如何实现三维空间在没有场景的情况下紧密聚焦是一个紧迫的问题，需要在目前的光学超分辨率领域解决。 4PI显微镜可以完全压缩专用于该区域的物镜的轴向尺寸，但是，其干扰性能将导致明亮中心上方和下侧的高强度干扰侧叶。理论计算表明，多点动机的影响可以有效防止4PI干扰。当非线性（n）达到第10阶时，高强度的旁路被完全删除。研究小组使用超高级非线性激发（UNFOR）光子雪崩荧光（N 30），在没有反卷积算法的帮助的情况下，首次专注于真实的物理空间，以实现无侧的4PI。同时，高阶非线性效应可以在三维空间中极大地压缩面积大小，从而很容易获得三维超级分辨率的成功。此外，为了应对传统双重目标4PI体系结构中的问题，研究团队的ISIT是明智的选择，可以使用反射器来替换一个目标，并通过矢量场模块沿光轴沿光轴开发两个单独的焦点，并实现玻璃消耗后单个目标镜头的4PI干扰照明。单个荧光颗粒的成像结果表明，非4PI方法可以达到26 a的极端农场遥远的焦点单光束连续光激发单一目的显微镜系统中的Xial纳米和48纳米。相关论文信息：https：//dii.org/10.1038/s41377-025-01833- x